安博体育官网,安博体育

欢迎来到广东艾斯瑞仪器科技有限公司网站!
品管仪器优质供应商,提供放心的实验仪器
服务热线

服务热线:137-2649-6623(刘小姐)
189-2299-1715(陈先生)
189-2688-9048(张小姐)

艾斯瑞Asri


艾斯瑞安博体育官网,安博体育NEWS CENTER
您的位置: 安博体育官网,安博体育 -> 安博体育官网,安博体育 -> pct高压加速老化试验箱有哪些指标?
pct高压加速老化试验箱有哪些指标?
pct高压加速老化试验箱技术性能指标
1.温度范围:+110℃ ~+132℃。
2.温度波动:0和5℃。
3.温度均匀性:1,5℃。
4.湿度范围:%R和H饱和蒸汽。
5.湿度波动:1 . 5% R,h。
6.湿度均匀性:3 . 0% R,h。
7.压力范围:
相对压力:+0 ~ 2 kg/cm2。(注:可产生的压力范围:+0 ~ 3kg/cm2)。
相对压力:1,0 kg/cm2 ~ 3,0 kg/cm2。
安全承压能力:4kg/cm2=1个环境大气压+3kg/cm2。
8.循环方式:水蒸气自然对流循环。
9.时间设置:0 ~ 999小时
10.加压时间:0,00 kg/cm2 ~ 2,00 kg/cm2,约30分钟。
12.升温时间:从常温到+132℃约30分钟,无非线性负载。
13.温度变化率是平均气温变化率,而不是产品温度变化率。
14.测试内箱的容积可以选择:

注意:
1.在无测试负载和无货架条件下稳定30分钟后测得的性能。
2.升降温时间是指环境温度为26℃±5℃时,风冷型的实测性能。
3.温湿度传感器设置在空调箱的出风口。
4.温湿度均匀度定义为在该温度和湿度下,实验室几何中心的测量数据。
5.以上数据的性能、测量和计算方法参照GB5170、GB 2、GB5170和GB5确定。

pct高压加速老化试验箱有哪些指标?

pct高压加速老化试验箱的特点:
1.内外箱采用304不锈钢板,圆形内箱,不锈钢圆形试验内箱,符合工业安全容器标准,可防止试验过程中的结露和滴漏。
2.圆形内衬,不锈钢圆形内衬设计,可避免蒸汽潜热直接冲击样品。
3.设计可靠,气密性好,用水量小,每次加水可持续200h。
4.自动门禁,圆门温度压力自动检测,安全门禁锁定控制,安全门手柄设计,箱内压力超过正常压力时,测试人员会受到反压力保护。
5.专利包装。当箱内压力较大时,填料会有反压力,使其与箱结合更紧密。它全不同于传统的挤压式,可以延长填料寿命。
6.实验前的真空作用可以抽出原箱中的空气,吸入经滤芯过滤后的新鲜空气(微粒
7.临界点上下限模式用于自动安全保护,显示异常原因和故障指示。

Pct高压加速老化试验箱用途:
Pct稀土老化测试仪又称高压加速老化测试仪,适用于测试国防、汽车零部件、电子零件、塑料、磁铁工业、制药电路板、多层电路板、ic、LCD、磁铁、灯饰、照明产品等产品的密封性能。相关产品经过加速寿命试验、高压老化箱、三重综合试验机。

pct高压加速老化试验箱的实施与达标
1.GB/T10586-1989湿热实验室技术条件;
2.GB2423,3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;
3.MIL-STD810D方法502,2;
4.GJB150,9-8温湿度测试;
5.GB2423,34-86,MIL-STD883C法1004,2温度、湿度、高压联合试验;


特点:
★全自动操作模式,自行操作,无需人员操作更加快捷方便。
★有三重压力安全保护装置,保护更好,采用两级超温保护、控制器内部机械压力等先进保护装置。
★安全保护和压力切割可手动操作。出现异常时,可通过紧急安全装置进行两级自动压力切割。
★、LED数字温度控制器这种先进的控制器在温度控制方面有较好的精度能力。它能准确地设定、控制和显示试验温度,通过PID控制,误差减小到±0.1℃。
★采用LED数字定时器,当锅内温度达到时开始计时,更好的保证实验的安全性和稳定性。

高压加速老化试验箱
1.这种高压加速老化试验箱由先进的进口微电脑控制,可以更方便地控制饱和蒸汽温度,特别是在微电脑P.I.D .的控制上,更便于自动计算和控制饱和蒸汽温度。
2.高压加速老化箱使用指针显示正负压力表,以便更好地查看数据。时间控制器采用先进的进口LED显示屏和自动水位控制器,即使水位不足也能报警。
3.在高压加速老化试验箱的圆形内箱中,内部结构采用不锈钢,全符合工业安全容器的标准,可以放心使用和操作,并采用了良好的设计来防止试验中的结露和滴漏。
4.采用了较好的圆形设计和圆形测试内盒结构。这种设计可以防止或避免高压加速老化试验箱中蒸汽的潜热直接冲击试样,造成试样的损坏,起到很好的保护作用。

PCT加速老化试验箱主要用于测试半导体封装的吸湿能力。当被测产品在恶劣的温度、湿度和压力下测试时,水分会沿胶体或胶体与引线框架的界面渗入封装。常见的失效模式是有源金属化区域腐蚀导致的开路,或污染导致的封装引脚间短路等。广泛用于测试印刷电路板、多层印刷电路板、IC、LCD、磁铁等产品的密封性能,测试其产品的耐压性和气密性。加速寿命试验的目的是改善环境应力和工作应力,加快试验进程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
咨询热线
137-2649-6623(刘小姐)
159-9277-8024(池小姐)
189-2688-9048(张小姐)
地址:中国广东省东莞市道滘镇永庆村永庆工业三区建业路3号
广东艾斯瑞仪器科技有限公司 Copyright © 2018 版权所有 技术支持: [BMAP] [GMAP] []  【】