PCT饱和蒸汽试验箱适用于国防、航空航天、汽车零部件、电子零配件、塑料、磁体工业、制药、电路板、多层电路板、ic、LCD、磁体、照明、照明产品等产品的密封性能测试。，并对相关产品进行加速寿命测试，用于产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其产品的耐厌氧性和气密性。测试半导体封装的防潮能力。待测产品在恶劣的温度、湿度和压力下测试时，水分会沿着胶体或胶体与引线框的界面渗入封装内。常见的故障模式是有源金属化区域腐蚀导致的开路，或封装引脚之间污染导致的短路。加速老化寿命试验的目的是增加环境应力(如温度)和工作应力(施加在产品上的电压和负载等)。)，加快测试过程，缩短产品或系统的寿命测试时间。
PCT测试箱使用:该设备主要用于航空、航天、电子、国防、科研等工业部门在温度、湿度、低压等单一或复杂环境条件下确定的电气电子产品(包括元器件、材料、仪表)的储运等可靠性试验。
PCT饱和蒸汽压力试验箱使用范围
PCT试验箱主要参数:
内部尺寸:60 * 80 * 85厘米。
温度范围:LPT:-70~+160℃LPTH:(环境温度+20)℃~+160℃。
湿度范围:10 ~ 98%相对湿度
压力范围:正常压力:0.5千帕
温度波动:≤ 0.5℃(常压下)。
温度均匀性:≤ 2℃(常压下)。
湿度波动:≤ 2% r.h(正常压力下)。
湿度均匀性:≤ 3%相对湿度(相对湿度> 75%相对湿度时)；≤ 5%相对湿度(相对湿度≤75%相对湿度时)。
压力偏差:≤ 2kpa (≥ 40kpa)、≤ 5%(在2 ~ 40kpa时)、≤ 0.1kpa(在≤ 2kpa时)。
加热时间为25℃(常温)→+160℃≤60分钟(常压)。
冷却时间:(限LPT型)+25→-65℃(常压下)。
PCT试验箱性能参数测试:
1.在开发阶段，用于暴露试制产品各方面的缺陷，评估产品达到预定目标的可靠性；
2.生产阶段为监控生产过程提供信息；
3.对终产品进行可靠性评估或验收；
4.揭示和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及相关失效模式和失效机理；
5.提高产品可靠性，制定和完善可靠性试验方案，为用户选择产品提供依据。
